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SM241-2048像素近红外激光光谱仪 
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简介

SM241是一款基于CCD探测器的紧凑型光谱仪,专为NIR近红外激光应用而设计。 在CCD探测器上进行镀膜涂层从而打破了标准硅基CCD探测器阵列在1100nm以上的灵敏度限制,允许光谱响应范围拓展至1650nm。该技术使SM241成为基于Ge铟镓砷InGaAs光谱仪成本更低的替代品。

SM241采用的光机平台包括超大镀金平面镜专用光栅,以适应NIR近红外收集和分析。该光谱仪的**光谱覆盖范围为900 nm 至 1650 nm(缩小900-1650 nm范围内的覆盖窗口尺寸将有助于提高光谱分辨率和光灵敏度)。但尽管 SM241 可以测量到 1650nm,但由于其灵敏度较低,因此SM241**于在应用中使用在此NIR范围内测量非常窄的带宽和强光,如激光。

标准接口包括一个USB 2.0接口和具有16位扩展动态范围的PCI卡接口。软件支持包括用于专用应用程序开发的 SDK 和 DLL 以及基于SM32Pro Windows的光谱采集和分析软件。标准和传统接口设计均支持高级采集编程和外部触发功能。

特点

-Ge 铟镓砷InGaAs 光谱仪高性价比替代品

- 2048像素,具备较高的像元分辨率

- 紧凑型系统可以手持或固定安装后使用

- 灵活的光输入:自由空间光或通过光纤

- 高性能

- 允许在900 - 1650nm之间进行光谱测量

- 提供16位动态范围的USB 2.0接口

- 支持多达8个通道测量

技术参数

物理参数

尺寸

121mm x 121mm x 54mm

重量

0.7Kg

光纤连接器

SMA905, NA=0.22

探测器参数

探测器

Sony ILX511 (IR增强镀膜涂层)

光谱响应范围

900 - 1650nm

像素数

2048

像元尺寸

14um X 200um

井深

62,500 e-

光学参数

光学分辨率

<2nm (使用10um狭缝)

暗噪声RMS

<50 RMS counts @ 35ms

信噪比

250 : 1

线性度

<0.1% 平均

电学参数

A/D分辨率

16bit

最小积分时间

1ms

接口

USB 1.1 或 USB2.0 (供电)

电脑参数需求

操作系统

Windows XP / VISTA / Win7 / Win8.1 / Win10 (32/64bit)

软件

专用软件已包含,可提供Visual C++ DLL /LabVIEW VI SDK二次开发包

外形尺寸图

外形尺寸图.png



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